流平測定儀/流平性測定儀 型號:H06181

流平測定儀主要用于實驗室測定液態(tài)涂料的相對流平性（涂料在干燥過程中消除表面弊病的能力）。

適用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999標準

H06181 適用范圍

設(shè)計制造的H06181 型流平性測定儀，一般與流掛性實驗器配合使用，試驗涂料在施工和干燥期間的流平（分散）和流掛性，為達到所要求的表面效果作比較試驗。由于是專項試驗而節(jié)約時間，能快速試驗產(chǎn)品合格與否，從而快速調(diào)整配方。

H06181 參數(shù)

H06181 1:涂層100-1000um

外形尺寸：框式120×20×20mm（長×寬×高）

凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm

H06181 2:涂層250-4000um

外形尺寸：框式120×22×20mm（長×寬×高）

凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 /  4.0 mm

H06181 簡單介紹

主要用于實驗室測定液態(tài)涂料的相對流平性（涂料在干燥過程中消除表面弊病的能力）。

適用于ASTM D2801-1994、JB/T3998-1999標準

H06181 適用范圍

設(shè)計制造的H06181 型流平性測定儀，一般與流掛性實驗器配合使用，試驗涂料在施工和干燥期間的流平（分散）和流掛性，為達到所要求的表面效果作比較試驗。由于是專項試驗而節(jié)約時間，能快速試驗產(chǎn)品合格與否，從而快速調(diào)整配方。

H06181 參數(shù)

H06181 1:涂層100-1000um

外形尺寸：框式120×20×20mm（長×寬×高）

凹槽深度: 0.1/ 0.2/ 0.3/ 0.5 /1.0 mm

H06181 2:涂層250-4000um

外形尺寸：框式120×22×20mm（長×寬×高）

凹槽深度: 0.25 / 0.5 / 1.0 / 2.0 /  4.0 mm

2.頻率計/數(shù)字頻率計 型號：H06178

本儀器可測量10Hz－2.4G之振蕩頻率，具有七位高亮度LED顯示，該機性能穩(wěn)定、測量精度高、體積小、重量輕、價格低廉，是一個既能測頻率又能測周期、計數(shù)和電容多功能測試儀器。

技術(shù)指標

一、 頻率計：

1、 測量范圍： 10Hz－2.4GHz

2、 量程： （1） 檔 10Hz－10MC

（2） 檔 10Hz－50 MC

（3） 檔 50MC－2400 MC

3、 閘門時間：0.02S、0.2S、2S選

4、 靈敏度：≤20mV

5、 阻抗：1MΩ、50Ω

6、 精度：基準時間誤差 x 頻率 ±1計數(shù)值

7、 數(shù)顯：7位

二、周期：

1、 測量范圍：1－9999999S

2、閘門時間：0.01S、0.1S、1S 選

三、計數(shù)：1－9999999

四、電容：測量范圍 10P－5000UF誤差±5％

五、電源電壓：220V ±20％ 50Hz

六、計數(shù)測量：按下“計數(shù)鍵", “G"燈亮，再按“清零鍵"，清零復位，脈沖由低頻輸入口（10Hz-50Mc）輸入，然后開始計數(shù)。

七、電容測量：按下電容鍵，將電容用隨機所附的測試線接入CX插座（電解電容注意極性，紅插座接＋極）根據(jù)所測電容選擇適當量程10UF或10KVF，該開關(guān)處于復位狀態(tài)時，測10p-10UF，按下時測0.01UF－5000UF,測10P－50P電容時要減去分布電容8P，電容容量較大時，所需測量的時間較長。

八、晶體測量：按下10UF電容鍵和閘門鍵，頻率選用10M或50M檔，接口在晶振插口測得晶振值，測量范圍2M-24M。

九、附件：測試電纜線二根（低頻黑色、高頻灰色各一根）；晶振、電容測試線一對；電源線一根；說明書一份。

注意！高電壓、高容量的電容必須先放電后測量，否則會損壞本儀器。在測量過程中OF發(fā)光管工作時，說明被測量數(shù)值已溢出，請選高一檔量程.

3.. 自動漆膜干燥時間測定儀/ 型號:H06177

說明：為了全面詳細了解涂層干燥和固化過程，需要有一種可自動測定涂膜干燥全過程時間的儀器，這樣可以方便試驗人員準確而高效得到一個科學數(shù)據(jù)，H06177 -24自動漆膜干燥時間測定儀設(shè)計原理為選用單片微機控制高精度步進電機，帶動球面觸點的劃桿，在一定的載荷下通過恒定速度，劃針勻速在待測漆膜表面做圓周運動，通過劃針在涂膜表面軌跡用干燥時間圖表覆蓋后來判定涂料成膜全過程。

主要技術(shù)指標：

■ 電源：220V±10%，50HZ

■ 劃桿旋轉(zhuǎn)一周速度：24h/r

■ 劃針半徑：0.25/0.5/1.0/1.5mm

4.數(shù)字頻率計/數(shù)字頻率儀 型號：H06176

第一章 概 述

一、概述：

H06176 型數(shù)字頻率計具有：頻率測量、脈沖計數(shù)及晶體、彩電中周校準等功能，并有三檔時間閘門、五檔功能供選擇和八位LED數(shù)碼顯示，頻率從10Hz—2400MHz的智能頻率計。全部功能是用一個單片微處理器（CPU）來完成的，從而整機性能穩(wěn)定，體積小，使用攜帶方便，是一種高性能、低價位的理想智能數(shù)字化儀表。

二、技術(shù)條件及說明：

1、測量：

（1）輸入端口

a、30 MHz — 2400 MHz 的高頻通道端口

b、10 Hz — 30 MHz的低頻通道端口

c、晶振插孔為晶體測量端口

（2）頻率測量

a、量程：

C 0ㄈh 為“0"檔 測量頻率為30 MHz — 2400 MHz

C 1ㄈh 為“1"檔 測量頻率為30 MHz — 800 MHz

C 2ㄈh 為“2"檔 測量頻率為100 KHz — 30 MHz

C 3ㄈh 為“3"檔 測量頻率為10 Hz — 30 MHz

b、分辯率：

1 Hz, 10 Hz， 100 Hz

c、精度：

±1計數(shù)值±基準時間誤差x 頻率

d、閘門時間：

0.1S， 1S， 10S

e、輸入靈敏度：

20 MV

f、輸入阻抗：

50 Ω/ 1 MΩ

j、輸入電壓：

30 V

2、計數(shù)測量：

在第“4"檔位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口輸入，分辯率為±1輸入計數(shù)值。

3、晶體測量:

在“2"和“3"檔位上從面板晶振輸入插孔插入欲測之晶體，測試晶振范

圍為100KHz — 40 MHz（24MC以上為測量值x3）。

4、中周校準：

①頻率范圍： A單片機、四片機的視頻檢波中周37.8MHz

AFT：37MHz

B 兩片機的視頻檢波中周 38.7MHz

AFT：37.8MHz

②頻率誤差：±0.2MHz

5、電源電壓：AC 220 V ± 10% ； 頻率50 Hz

6、功 耗： 3 W

7、溫 度： 使用范圍 -5℃ — +50℃

存放運輸 -40℃ — +60℃

8、濕 度： 10-90 % RH 存放運輸 5-90 % RH

9、預熱時間：10分鐘

10、尺 寸：200 x 60 x 160 (mm)

11、重 量：約0.5 Kg

第二章 操作方法

1、頻率的測量：當測量的頻率為10 Hz — 30 MHz時，“晶體、中周"鍵

彈出，將隨機所配的測試線插入下面的插座中，按動“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，按動“閘門"按鈕，當測試頻率為800 MHz以上時，可選用本機上面的插座，按動“檔位"鍵到“0"檔，當頻率小于800 MHz時，請選用“1"檔，同時選用適當?shù)拈l門時間，頻率越低，選用的閘門時間越長，反之越短。

由于低頻率時是高阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產(chǎn)生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接一個1MΩ的電阻。

2、晶體的測量：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，測量100KHz—3MC，面板插孔為1、2孔，3MC—24MC，面板插孔為3、4孔。

3、中周校準：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“0"檔，將中周插入面板插座的下方。兩片機中頻中周頻率范圍大約在38.9MC，單片機和四片機大約在37.8MC，AFT中周單片機大約37MHz，兩片機大約37.8，根據(jù)實踐經(jīng)驗確定）。拆下電視機的圖象中頻中周或AFT中周，將與中周線圈并聯(lián)的瓷管電容拆開，選擇一只電容（47P－75P）并接在中周的腳上，再將中周相應的腳，插入面板插座下面的插孔中，此時即顯示頻率值，無感起子緩慢調(diào)節(jié)磁芯，

到相應的數(shù)值。AFT檢波線圈應顯示在37.8MC上。注意有的電視機的中周殼

中不帶諧振電容，而是按裝在線路板上，這種情況應將中周和電容一起拔下，并聯(lián)好后再調(diào)校（校后裝入電視機上，有的需要左右微動磁芯少許）。

4、計數(shù)：在10 Hz — 30 MC插口，接入電脈沖，“檔位"選至“4"，即

可計數(shù)。

5.數(shù)字頻率計/頻率計/數(shù)字頻率儀 型號:H06174

一、概述：

    H06174 型數(shù)字頻率計具有：頻率測量、脈沖計數(shù)及晶體測量等功能，并有三檔時間閘門、五檔功能供選擇和八位LED數(shù)碼顯示，頻率從10Hz—2400MHz的智能頻率計。

是用一個單片微處理器（CPU）來完成的，從而整機性能穩(wěn)定，體積小，使用攜帶方便，是一種高性能、低價位的理想智能數(shù)字化儀表。

二、技術(shù)條件及說明：

1、測量

（1）輸入端口

 a、30 MHz — 2400 MHz 的高頻通道端口

 b、10 Hz — 30 MHz的低頻通道端口

 c、晶振插孔為晶體測量端口

（2）頻率測量

 a、量程：  

         C 0ㄈh   為“0"檔   測量頻率為30 MHz — 2400MHz

         C 1ㄈh   為“1"檔   測量頻率為30 MHz — 800 MHz

         C 2ㄈh   為“2"檔   測量頻率為100 KHz — 30 MHz

         C 3ㄈh   為“3"檔   測量頻率為10 Hz — 30 MHz

 b、分辯率：

         1Hz,  10Hz， 100Hz

 c、精度：

         ±1計數(shù)值±基準時間誤差x 頻率

 d、閘門時間：

         0.1S， 1S， 10S

     e、輸入靈敏度：

                  15 MV

     f、輸入阻抗：

                  50 Ω/ 1 MΩ

     j、輸入電壓：

                    30 V

（3）    計數(shù)測量

     在第“4"檔位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口輸入，分辯率為±1輸入計數(shù)值。

（4）晶體測量

 在“2"和“3"檔位上從面板晶振輸入插孔插入欲測之晶體，測試晶振范

圍為3 MHz — 24 MHz。

（5）電源電壓：AC 220 V  ± 10% ；   頻率50 Hz

（6）功耗： 3 W

（7）溫度：   使用范圍  -5℃ — +50℃

              存放運輸  -40℃ — +60℃

（8）濕度：   10-90 % RH       存放運輸  5-90 % RH

（9）預熱時間：10分鐘

（10）尺寸：200 x 60 x 160 (mm)

（11）重量：約0.5 Kg

第二章 操作方法

1、頻率的測量：當測量的頻率為10 Hz — 30 MHz時，“晶體"鍵彈出，

將隨機所配的測試線插入下面的插座中，按動“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，按動“閘門"按鈕，當測試頻率為800 MHz以上時，可選用本機上面的插座，按動“檔位"鍵到“0"檔，當頻率小于800 MHz時，請選用“1"檔，同時選用適當?shù)拈l門時間，頻率越低，選用的閘門時間越長，反之越短。

    由于低頻率時是高阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產(chǎn)生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接一個1MΩ的電阻。

2、晶體的測量：將“晶體"鍵按下，“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔。

3、計數(shù)：在10 Hz — 30 MC插口，接入電脈沖，“檔位"選至“4"，

即可計數(shù)。

以上參數(shù)資料與圖片相對應